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簡要描述：Eksma 光學(xué)平面--光學(xué)元件光學(xué)平面用于測試和評估其他光學(xué)元件。在公寓和被評估對象之間的空氣中會(huì)形成干涉圖案，通常通過公寓而不是通過對象可以看到這種圖案。圖案由交替的亮帶和暗帶或條紋組成，它們是氣膜厚度的輪廓圖。如果光學(xué)元件的表面比要評估的表面明顯平坦，則將干涉圖樣直接解釋為要評估的表面的輪廓圖是正確的。
產(chǎn)品品牌：Eksma廠商性質(zhì)：代理商更新時(shí)間：2021-03-23訪 問 量：1161詳細(xì)介紹
| 品牌 | Eksma | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 組件類別 | 光學(xué)元件 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,化工,電子/電池,綜合 |
Eksma 光學(xué)平面--光學(xué)元件
Eksma 光學(xué)平面--光學(xué)元件
光學(xué)平面用于測試和評估其他光學(xué)元件。我們提供單面光學(xué)平面，其參考面的平坦度為λ/ 20 @ 633 nm。
產(chǎn)品介紹
Ø參考面的平面度：λ/ 20
Ø非常適合測試和評估其他光學(xué)組件
光學(xué)平面用于測試和評估其他光學(xué)元件。在公寓和被評估對象之間的空氣中會(huì)形成干涉圖案，通常通過公寓而不是通過對象可以看到這種圖案。圖案由交替的亮帶和暗帶或條紋組成，它們是氣膜厚度的輪廓圖。如果光學(xué)元件的表面比要評估的表面明顯平坦，則將干涉圖樣直接解釋為要評估的表面的輪廓圖是正確的。
如果將平面用于對象的頂部，并且通過平面看到干涉圖案，則在平面的頂表面（不接觸被評估對象的表面）上具有抗反射鍍膜是有利的。
產(chǎn)品型號
型號 | 直徑D | 厚度T |
230-1208E | ø 25.4 mm | 8.0 mm |
230-1208M | ø 25.0 mm | 8.0 mm |
230-1410E | ø 38.1 mm | 10.0 mm |
230-1410M | ø 40.0 mm | 10.0 mm |
材料 | UV FS |
直徑公差 | +0.00, -0.12 mm |
一表面平整度： | λ/20 @ 633 nm |
二表面平整度： | 2 λ @ 633 nm |
厚度公差 | ±0.2 mm |
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